半導體制冷低溫差示掃描量熱儀

半導體制冷低溫差示掃描量熱儀  
差示掃描量熱儀為觸摸屏式，可進行玻璃化轉變溫度測試、相轉變測試、熔融和熱焓值測試、產品穩定性、氧化誘導溫度、氧化誘導期測試、固化度等測試。

技術特點

 1、工業級別的7寸觸摸屏，顯示信息豐富。

2、全新金屬爐體結構，基線更好，精度更高。

3、USB通訊接口，通用性強，通信可靠不中斷，支持自恢復連接功能。

4、自動切換兩路氣氛流量，切換速度快，穩定時間短。同時增加一路保護氣體輸入。

5、采用***芯片，穩定性高 

半導體制冷低溫差示掃描量熱儀  

技術參數：

1.溫度范圍: -40~600℃     

2.溫度分辨率: 0.01℃

3.溫度波動: ±0.01℃

4.升溫速率: 0.1～100℃/min

5.降溫速率：0.1~40℃/min

6.恒溫時間：可自行設置

7.控溫方式：升溫，恒溫，降溫（全自動程序控制）

8.掃描方式：升溫掃描、降溫掃描

9.DSC量程: 0～±600mW

10.DSC解析度: 0.01uW

11.DSC度: 0.001mW

12.工作電源: AC220V/50Hz或定制

13. 氣氛控制氣體：兩路自動切換（儀器自動切換）

14.程序控制：可實現六段升溫恒溫控制，特殊參數可定制

15.氣體流量：0-300mL/min  

16.氣體壓力：≤5MPa

17.顯示方式: 24bit色，7寸 LCD觸摸屏顯示

18.數據接口：標準USB接口

19.參數標準:  配有標準物質（銦，錫，鉛），用戶可自行校正溫度