布魯克Bruker LUMOS II紅外顯微鏡

布魯克Bruker  LUMOS II紅外顯微鏡 

LUMOS II的特點：

·       FPA成像性能

·       高清光譜和視覺數(shù)據(jù)

·       創(chuàng)新的校準技術(shù)PermaSure+

·       超快成像數(shù)據(jù)采集

·       巨大視野和高達亞微米級別的視覺分辨率

·       ATR、透射和反射模式下的焦平面陣列（FPA）成像

·       標準TE-MCT檢測器可在無液氮的情況下提供高靈敏度！

·       軟件引導的測量支持初學者和專業(yè)用戶

·       放置樣品輕松：允許最大樣品厚度達40毫米

·       全電動化和自動化的硬件

·       符合cGMP/GLP、USP、ChP、JP、Ph.Eur.和聯(lián)邦法規(guī)21章第11款(21 CFR p11)

·       自動OQ/PQ/藥典測試

·       如果應用需求發(fā)生變化，可隨時升級系統(tǒng)

任何地點、任何用戶

我們相信并努力做到，向所有用戶提供先進的技術(shù)。繁瑣的硬件和軟件操作不應該成為限制FTIR顯微和成像技術(shù)巨大優(yōu)勢的因素。

我們稱之為真正的FPA成像。為什么？

因為LUMOS II通過使FTIR成像更快、更容易、更準確、更可靠甚至更有趣來提升FTIR成像品質(zhì)。

為實現(xiàn)這一目標，我們專門為用戶量身定制了 LUMOS II、軟件和用戶界面。初學者也可以立即獲得好的測試結(jié)果，專家則可以利用LUMOS II的無限潛能。

更好的儀器、更好的結(jié)果

LUMOS II 在透射和反射測量中的出色結(jié)果是顯而易見的。此外，一個值得注意的亮點是衰減全反射 (ATR) 的測量。

簡而言之，LUMOS II ATR模式下的性能是優(yōu)秀的。不要滿足于不可靠的、手動的 ATR 配件—要獲得更好的。要擁有 LUMOS。

可伸縮的晶體由高精度壓電電機控制并被集成到透鏡中。這使您可以清楚地看到樣品，并在您選定的位置進行精確測量。

輕松的FTIR測量

• 標準 TE-MCT 檢測器

• 無需液氮

• 無需吹掃

• 低功耗

• 抗高濕度（ZnSe 光學元件）

• 包括激光在內(nèi)的元件壽命長

• 占用空間小

布魯克Bruker  LUMOS II紅外顯微鏡 

• 帶集成壓力傳感器的電動ATR晶體

• ATR模式下的FPA成像

• 在ATR、透射和反射模式之間快速切換

• 高精度樣品臺

• 自動測量

ATR

LUMOS II是一款易于使用的獨立式FTIR顯微鏡，在任何測量模式下均具有高性能。無論是透射、反射還是衰減全反射(ATR)，LUMOS II始終是正確的選擇。

但它zui大的優(yōu)勢是ATR顯微技術(shù)。

FTIR顯微技術(shù)中ATR的適用性令人驚奇，結(jié)合FPA成像可以進一步增強它的適用性。這使得LUMOS II成為故障分析和產(chǎn)品開發(fā)的常用工具。

ATR在顯微技術(shù)中的優(yōu)勢

誠然，每種技術(shù)都有其優(yōu)點和缺點。在FTIR顯微技術(shù)中，透射和反射面臨著類似的限制因素限制其適用性。

相比之下，ATR在無需樣品制備的情況下，幾乎可為任何樣品類型提供高品質(zhì)的FTIR數(shù)據(jù)。此外，它還提供高空間分辨率。

與透射和反射測量相比，在ATR中，鍺晶體充當固體浸沒透鏡，將空間分辨率提高4倍。這樣，您可以輕松分析小至幾微米的樣品。

在透射中，樣品必須足夠薄以使紅外輻射穿透。對于大多數(shù)樣品，這需要耗時的樣品制備，例如使用精細切片機切片。

如果要檢測小纖維或微粒，必須使用昂貴的紅外透明的濾膜和壓片單元。

在反射中，樣品需具備光滑的、拋光的紅外反射表面，或者放在鋁鏡或金鏡上。在后一種情況下，樣品也必須非常薄才能有足夠的紅外線通過，從而獲得合適的紅外光譜。此外，反射光譜通常需要特殊的數(shù)據(jù)處理以進行評估。

持久和強大的應用

對我們來說，向客戶交付好的技術(shù)是理所應當?shù)氖隆＿@也適用于LUMOS II。

RockSolid^TM 干涉儀可確保恒定的性能，而現(xiàn)代電子設備可確保機械精度和低能耗。同時，軟件可監(jiān)控儀器的有效性并始終確保正確的功能。

無限可能，待您探索

FTIR成像的應用非常多樣。上面的例子概述了ATR-FTIR顯微技術(shù)的實用性。無論是產(chǎn)品開發(fā)、故障分析還是識別古代壁畫的成分— LUMOS II都能從容高效地完成這一切。

應用

高分子研究

FTIR是高分子科學中重要的分析技術(shù)之一。在這一領(lǐng)域中，紅外顯微技術(shù)能提供優(yōu)秀的細節(jié)層次。用它可以來追蹤產(chǎn)品缺陷的原因，例如夾雜物和不均勻性。它還可以用來揭示復雜材料、多層結(jié)構(gòu)、層壓板、復合材料和清漆的化學成分。

制藥

LUMOS II*符合cGMP、GLP和所有制藥法規(guī)，如21 CFR Part11。自動化測試程序(OQ/PQ/PhEur/PhJp/USP等)讓您能專注于分析任務：檢查片劑、顆粒和粉末，檢測并識別顆粒和其他污染物；評估活性藥物成分和輔料的分布。

電子元件

電子產(chǎn)品生產(chǎn)要用到各種類型的有機/無機材料。FTIR光譜是一種通用技術(shù)，可為大多數(shù)樣品提供有價值的化學信息。因此，FTIR顯微技術(shù)對故障和根本原因分析有很大幫助。

表面分析

某些表面改進適用于特定用途的產(chǎn)品。這包括高分子等有機涂層和DLC沉積等無機涂層。FTIR成像是檢查涂層均勻性和排除不規(guī)則性的理想選擇。

生命科學

微觀FTIR分析為生物學提供了重要的啟示。它可以發(fā)現(xiàn)特定的疾病模式、功能失調(diào)的組織甚至新的與疾病相關(guān)的生物標志物。LUMOS II具有快速成像功能和大視野，簡化了冗長的組織研究過程。

汽車

在汽車工業(yè)中，FTIR顯微技術(shù)用于檢查所有類型的組件，例如油漆、涂料、輪胎、內(nèi)飾、發(fā)動機零件和所有類型的電子產(chǎn)品。優(yōu)點是可以快速識別缺陷并確定其原因，從而實現(xiàn)精確的故障排除。

顆粒分析

無論是微塑料還是技術(shù)清潔，對顆粒的研究都很重要。LUMOS具有識別顆粒并自動測量顆粒的特殊軟件功能，是您分析任何表面上任何顆粒的可靠幫手。

在取證方面，細微的細節(jié)都可能至關(guān)重要。FTIR顯微技術(shù)是研究小痕量證據(jù)的優(yōu)選方法。分析纖維、藥物、油漆和清漆，以深入了解復雜的分析案例。

環(huán)境

化學和顆粒污染會嚴重影響我們的生態(tài)系統(tǒng)。使用FTIR顯微技術(shù)和成像技術(shù)評估土壤、水和空氣中的污染。研究沉積物、地質(zhì)樣品等復雜樣品，并確定過濾器上的殘留物質(zhì)。